对新材料成分、性能及其组织结构的分析检测和研究开发，是现代材料科学发展的重要推动力。既为基础与应用科学研究提供支撑、也为社会企业自主创新提供技术服务。
中科易朔材料分析中心依托中国科学院的科研平台，汇集国内外专家学者，结合本身优势和多年积累的经验，为企业提供从材料成分分析，配方成分分析，材料形貌检测，材料物性检测到材料改性开发提供全方案的解决方案。
不仅仅是分析，我们的材料科学家无论从材料基础研究，还是实际生产应用，都能提供专业的建议意见，帮助提高产品的质量和性能和企业创新能力，保证企业的竞争力。
分析中心拥有专业的专家学者和先进的分析研究设施：
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设备图片 |
设备名称 |
设备原理 |
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Thermo Nicolet |
通过发出不同波长的红外光线照射待测物质，再通过传感器接受透过的红外光线的强度并得到对应的光谱。通过解析光谱可快速测定有机材料的组分。 |
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紫外-可见-近红外分光光谱仪 Agilent Cary |
通过发出紫外，可见光或近红外光线对待测物质进行照射，并得到原子的吸收光谱。可准确的定性定量分析材料中所含的元素及含量
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波长色散型X射线荧光光谱仪（XRF） ANalytical |
通过X射线照射待测物质使其产生荧光（新的X射线）通过检测待测物质所发出的X射线的波长以及强度即可确定组成及含量。可以有效的分析测试样品中的不纯的物质。 |
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电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES） JY-Horiba |
将待测物质被加热后原子化，电离，激发。通过施加能量使原子本身发生受激辐射发光（电磁波）。可以分析材料中所含的元素。 |
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高效液相色谱仪 Agilent |
将制成溶液的待测样品通入色相柱内，由于不同的组分在色相柱中的分配系数不同，在反复的吸附-解吸的过程中将样品中的组分分离并被检测器检出。主要用于分析高沸点不易挥发的、受热不稳定的和分子量大的有机化合物。 |
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元素分析仪 Elementar |
在复合催化剂的作用下，样品经高温氧化燃烧生成氮气、氮的氧化物、二氧化碳、二氧化硫和水，并在载气的推动下，进入分离检测单元。可用于定性定量的分析C, O,S,N,H这五种元素。 |
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辉光放电质谱仪（GD-MS） Thermo |
在低压条件下通过电子和亚稳态的稀有气体原子对样品进行碰撞使其达到等离子态。最后进入质量分析器内分析其是何种元素。 |
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电感耦合等离子体串联质谱仪（ICP-MS） Agilent |
通过高温等离子体加热样品使其受热电离，产生的离子经过离子光学透镜聚焦后进人四极杆质谱分析器按照荷质比分离，既可以按照荷质比进行半定量分析，也可以按照特定荷质比的离子数目进行定量分析。 |
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三重串联四极杆气质联用仪 Agilent |
物质气化后以分子状态进入质谱仪后，经过灯丝发射的电子轰击后，成各种不同的碎片;然后这些碎片进入四极杆后，由于碎片的质量和所带的电核不同（质荷比）,带电碎片到达终点（接收端）的时间不同，从而得知是何种粒子。 |
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X射线粉末衍射仪 Rigaku |
通过X射线对样品进行不同角度的照射，使其在晶体内部发生衍射。通过接收衍射光，可以得出物质的晶型，种类，晶体缺陷，聚合物的结晶度等等。 |
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同步热分析仪（TGA/DSC） Mettler-Toledo |
在程序温度控制下测量物质与参比物之间单位时间的能量差随温度的变化（DSC）可表现出物质的形态的变化。同时记录样品随温度变化而产生的重量变化（TGA），可判断出物质所含的组份数。 |
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扫描电子显微镜- 能谱仪 Hitachi |
通过二次电子成像原理将样品表面成像放大。其与光学显微镜相同可直观的观察材料的表面的微观形貌，最小可观察到纳米级表面。同时能谱仪可在观 |
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万能材料试验机 Instron |
通过不同的应力作用可以测量材料的拉伸，弯曲，剪切，压缩等不同应力状态下的形变，受力极限等情况。
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动态热机械分析仪（DMA） Mettler-Toledo |
通过对样品施加一个不断变化的压力以检测材料的应力迟滞，热损耗等现象，也可通过升温以确定样品的玻璃化转变温度Tg，熔融温度Tm等 |
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粒度/Zeta电位分析仪 Brookhaven |
利用光的散射原理测量粉颗粒大小的，其特点是测量的动态范围宽、测量速度快、操作方便。
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全自动气体吸附分析仪 Quantachrome
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通过测定气体的吸附率来测定粉体材料，多孔/微孔材料的比表面积。
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紫外老化试验箱 ATLAS |
可以再现样品在户外需要数月或数年所产生的破坏。看产品是否有退色、变色、亮度下降、粉化、龟裂、变模糊、脆化、强度下降及氧化等现象，同时它还可以再现雨水和露水所产生的破坏。
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